Контролер деталей и приборов (4-й разряд)

Характеристика работ

Контроль и приемка кристаллов микросхем и полупроводниковых приборов, сложных оптических деталей, узлов, микроэлементов для микромодулей специального назначения, деталей и готовых изделий. Проверка качества сложных соединений. Применение точного контрольно-измерительного инструмента, оптических приборов, различных испытательных схем, самостоятельная их настройка. Проведение лабораторных контрольных испытаний. Выборочное прокаливание пластин искусственного пьезокварца. Проверка качества приборов с классификацией по видам брака (до 20 видов). Проверка соответствия фотошаблонов топологическому чертежу, чистоты поля фотошаблона (процент дефектных модулей), замер критических размеров элементов. Анализ ИЭТ, забракованных в производстве и отказавших при испытаниях и на этапе эксплуатации. Измерение электрических параметров терморезисторов, катушек индуктивности, конденсаторов, диодов. Подготовка заключений о качестве сырья и материалов. Оформление приемки и сдачи партии, составление документов и протоколов контроля, оформление документов по рассмотрению рекламации.

Нужно знать

• требования к технологической документации и приемке сложны деталей, узлов, приборов, кристаллов микросхем, микроэлементам для микромодулей специального назначения
• устройство, назначение и условия применения контрольно-измерительных инструментов, приборов, микроскопов и аппаратуры, испытательных схем
• систему допусков и посадок, степень точности и параметры шероховатости
• методы и способы контроля сложных узлов изделий различного назначения
• методы различных расчетов и вычислений
• способы определения процента выхода моноблоков в пьезотехническом производстве
• методы анализа, порядок рассмотрения рекламаций и оформление соответствующих документов
• способы прокаливания искусственного пьезокварца, правила эксплуатации муфельной электрической печи
• способы хранения микроэлементов
• основные причины брака, меры его предупреждения и устранения
• правила оформления соответствующей документации на результаты контроля и приемки изделий

Примеры работ
1. Баллоны и ножки ПУЛ, ЛБВ и клистроны — контроль.
2. Блоки рентгенотелевизионного микроскопа — проверка на прочность; блоки питания для ЭВМ — контроль по параметрам.
3. БИС — контроль по внешнему виду качества фотолитографии; составление карты годности кристаллов на пластине.
4. Блоки катодные — проверка центровки на микроскопе БМИ.
5. Блоки ТКЛ и МКЛ катодные, анодно-сетчатые — контроль.
6. Выпрямители селеновые и купроксные — окончательная приемка.
7. Вилки и розетки штепсельные — контроль электропрочности и электропараметров.
8. Герконы, детали герконов — контроль внешнего вида с применением оптических приборов; анализ брака; измерение толщины покрытия.
9. ГИМ СВЧ — контроль корпусов, оснований и др. узлов с применением оптических приборов.
10. Датчики ДПУ и ВКГ — контроль.
11. Датчики МИС-10, МИС-11 — контроль плат с помощью универсального инструмента в соответствии с чертежами и ТУ.
12. Детали и узлы внутренней арматуры ПУЛ, генераторные и особо надежная серия ламп, детали оболочки цветного кинескопа — контроль.
13. Детали сложные после механической обработки (штоки, волноводы, переходы волноводные, наконечники полюсные и др.) с большим количеством отверстий и высокой чистотой обработки, детали металлические после отжига, химической полировки — контроль.
14. Детали ЭВП — окончательная приемка и контроль.
15. Детали керамические — контроль под микроскопом.
16. Детали установочной керамики различной конфигурации — контроль геометрических размеров с применением оптических приборов.
17. Детали ферритовые — проверка качества, коэффициента усадки.
18. Детали цифровых индикаторов — контроль на короткое замыкание и величины сопротивления.
19. Заготовки пьезокварца, водорастворимых кристаллов и пьезорезонаторы — контроль по механическим и различным электрическим параметрам.
20. Заготовки для фотошаблонов металлизированные — измерение толщины маскирующего покрытия.
21. Изделия керамические — контроль диэлектрических характеристик.
22. Индикатор вакуумный люминесцентный микроразрядный и цифровой — контроль внешнего вида и габаритов.
23. Изделия из ферритов и магнитодиэлектриков — проведение приемосдаточных испытаний в соответствии с ГОСТом, ОСТом, ТУ.
24. Катоды синтезированные, оксидированные (пористые, губчатые, рамочные), катоды косвенного накала ТКЛ — контроль.
25. Кварцедержатели пластмассовые, герметизированные, вакуумные, прецизионные, ультрапрецизионные третьего поколения и пьезосистемы — контроль качества согласно чертежам.
26. Кенотроны высоковольтные и среднегенераторные приборы — контроль.
27. Кинескопы — контроль внешнего вида.
28. Колбы электровакуумных приборов, весовое стекло, заготовки, тарелочки — визуальный контроль, учет и анализ брака.
29. Контакты и пружины штепсельных разъемов — проверка по контуру на проекторе.
30. Кристаллы сегнетовой соли, кристаллы кварца — приемка искусственно выращенных кристаллов.
31. Конденсаторы всех типов — проведение приемосдаточных испытаний.
32. Контакты магнитоуправляемые — контроль внешнего вида, контроль на наличие посторонних частиц под микроскопом.
33. Конус цветного кинескопа с нанесенной эмалью — проверка качества.
34. Лампы приемно-усилительные, металлические, пальчиковые, стеклянные — контроль собранных ножек, блоков и пакетов; контроль внешнего вида и габаритов; измерение емкостей (межэлектродных расстояний).
35. Лампы накаливания особой серии высокой надежности — приемка и контроль по всем параметрам в соответствии с особыми требованиями.
36. Лампы стержневой и рамочной конструкции — проведение СРТП.
37. Лампы-фары — определение давления газа; определение точки росы водорода; контроль и приемка в соответствии с чертежами и ТУ.
38. Матрицы памяти — контроль и расчет допустимого сопротивления полуобмоток.
39. Микросхемы, СВЧ-транзисторы, диодные и транзисторные матрицы — контроль внешнего вида, габаритных размеров.
40. Микросхемы СВЧ после гальванического покрытия — контроль по внешнему виду и толщины покрытия с применением оптических приборов.
41. Монтаж печатный — контроль наличия коротких замыканий и обрывов.
42. Ножки плоские электровакуумных приборов — контроль после штамповки и травления с помощью полярископа и других инструментов.
43. Оправка для сборки ТКЛ — контроль.
44. Партии радиодеталей опытные — контроль и проверка по всем электрическим параметрам.
45. Панели ламповые, переключатели, тумблеры ТВ и ТП, микропереключатели и микротумблеры — контроль деталей после прессования, предъявляемых представителю заказчика; контроль сборки изделий, предъявляемых представителю заказчика, контроль по электропараметрам на электроустановках (наличие контакта, переходного сопротивления, электропрочности, сопротивления изоляции, время срабатывания, рабочего хода, дополнительного и дифференциального ходов) изделий, предъявляемых представителям заказчика.
46. Платы, оси в сборе, втулки, крышки изделия ПГ2-7 микросхемы СВЧ — проверка после прессования; изделия ПТ6 и ПТ3 — контроль сборки, усилия переключения, омического сопротивления, замкнутых пар, электрической прочности изоляции и сопротивления изоляции.
47. Платы печатные — контрольное измерение «прозвонка» согласно требованиям ТУ.
48. Пластины затравочные всех типов и срезов — окончательная приемка шлифовки и сверления и оформление документов.
49. Пластины кремния — контроль толщины после шлифовки, контроль качества фотолитографии с применением контрольно-измерительных средств и оптических приборов.
50. Пластины памяти — контроль омического сопротивления полуобмоток.
51. Пластины МИС, кристаллы — выявление брака; контроль по внешнему виду.
52. Пластины стеклянные, индикаторы жидкокристаллические — контроль геометрических размеров с применением оптических приборов.
53. Подогреватели, катоды, детали, покрытые коллоидно-графитовым препаратом — контроль по внешнему виду и геометрическим размерам с применением проектора, микроскопа, МБС и МОСТА постоянного тока.
54. Приборы МКЛ и ТКЛ, приборы полупроводниковые особых серий, высокой надежности, приборы в тропическом исполнении и с особыми условиями приемки — контроль внешнего вида; контроль по всем параметрам; контроль упаковки и сопроводительной документации.
55. Приборы, различные узлы — контроль после сборки, заварки, откачки, распыления газопоглотителей; окончательная приемка и контроль по всем параметрам.
56. Призмы, линзы, пластины — контроль.
57. Приборы генераторные различной мощности, мощные игнитроны с ртутным наполнением, тиратроны, газоразрядные приборы, высоковольтные кенотроны СВЧ — контроль узлов с применением универсального инструмента.
58. Приборы электровакуумные сверхминиатюрные повышенной надежности — контроль внешнего вида.
59. Приборы бескорпусные — контроль защитных покрытий до упаковки в тару и упакованных в тару.
60. Проволока различных диаметров, в том числе из тугоплавких металлов и их сплавов, тонкие сорта — контроль после волочения, отжига, металлизации, травления, никелирования и гальванического покрытия методом взвешивания на торзионных весах; внешнего вида поверхности визуально и под микроскопом; геометрических размеров с применением специального и универсального измерительного инструмента; механических и электрических свойств.
61. Пьезорезонаторы кварцевые — операционная приемка по ТКЧ и частоте.
62. Радиолампы, волноводные переходы, высокочастотные тракты, трансформаторы импульсные силовые — проверка по ТУ.
63. Светильники — приемосдаточные испытания.
64. Сетки ППУЛ и МПУЛ, СПУЛ, титанокерамические — контроль основных параметров.
65. Сетки и внутренняя арматура — центровка при помощи микроскопа и проектора; контроль.
66. Спаи вакуумные — контроль под микроскопом БМ после штамповки, высокочастотной пайки и химической обработки.
67. Спирали линии замедления — контроль шага и диаметра на микроскопе, оптическим методом на установке измерения микроструктур.
68. Схемы печатные — контроль после травления; окончательная приемка с проверкой электрических параметров.
69. Схемы интегральные (IV степени интеграции) — определение видов брака; контроль электрических параметров; отбор ИС на все виды испытаний.
70. Транзисторы, теристоры, оптроны — контроль и приемка по ТУ.
71. Трансформаторы и дроссели — контроль электропараметров.
72. Транзисторы и микросхема среднего уровня интеграции — вскрытие корпусов приборов и локализация дефектных узлов и элементов под микроскопом.
73. Трубки кварцевые, ситалловые и керамические стержни — контроль по внешнему виду с применением микроскопа.
74. Трубки электронно-лучевые (однолучевые) — контроль собранных арматур и ножек.
75. Трубки электронно-лучевые (скиатроны) — контроль после заварки, откачки, цоколевания.
76. Узлы модульные — контроль с применением оптических и контрольно-измерительных приборов.
77. Фотооригиналы промежуточные — аттестация линейных размеров на УИМ-21.
78. Фотошаблоны пленочные — контроль.
79. Экраны — контроль качества покрытия и качества стекла.
80. Элементы памяти на ферритовых изделиях и пленках — контроль геометрических размеров изделий различной конфигурации; контроль электрического монтажа сложных изделий; проверка сопротивления полуобмоток, обмоток считывания и запрета, проверка работоспособности несложных видов матриц.