Измеритель электрофизических параметров изделий электронной техники (4-й разряд)

Характеристика работ

Измерение температурной стабильности, температурного коэффициента и других электрических параметров радиодеталей. Измерение электрических параметров конденсаторов на электропрочность между выводами, сопротивления изоляции между выводами, на классы точности по емкости измеряемых конденсаторов. Измерение электрических и электромагнитных параметров матриц и дешифраторов. Измерение удельных сопротивлений полупроводниковых материалов, эпитаксиальных структур и поверхностного сопротивления поликристаллических слоев 4-зондовым методом. Определение скорости травления диэлектрических слоев, типа проводимости структур, зависимости емкостей и удельных сопротивлений от температуры. Определение плотности дислокации структурных дефектов на металлографических микросхемах и однородности распределения плотности по эталонам. Контроль статических параметров, контроль тестов на функционирование микросхем со степенью интеграции менее 100 эл/кв. мм. Проверка всех схем микромодулей по картам сопротивлений, напряжений и электрических параметров в нормальных условиях и при крайних значениях температур в камерах тепла и холода на соответствие требованиям ТУ. Запитка напряжением различных микромодулей, установленных на стендах. Проверка по электрическим параметрам и электрической прочности блоков селеновых выпрямителей, измерение селеновых элементов по электрическим параметрам для модуляторов и изделий специального назначения. Вычисление электрических параметров по формулам и измерение их на приборах. Подготовка и настройка установок, стендов и приборов к работе с последующей настройкой по эталонным пластинам. Проверка правильности показаний приборов и регулировка приборов в процессе работы.

Нужно знать

• устройство, принципиальные схемы, принцип действия и способы проверки на точность обслуживаемого оборудования и приборов
• устройство, назначение и условия применения контрольно-измерительных приборов
• электрические характеристики измеряемых изделий
• способы настройки, регулировки и устранения мелких неисправностей приборов и автоматов
• методы расчетов температурного коэффициента емкости
• методы расчетов измерения емкости после воздействия влаги, нагрузки, холода
• основы теории электротехники и радиотехники
• назначение полупроводниковых материалов и эпитаксиальных структур и их свойства
• методы расчета величины тока смещения

Примеры работ
1. Блоки питания ЭКВМ — проверка по всем параметрам.
2. Диски пьезокерамические — измерение и расчет пьезомодуля Д31 емкости и тангенса угла диэлектрических потерь.
3. Изделия из ферритов — измерение импульсных температурных характеристик; измерение магнитной проницаемости на массовых схемах.
4. Конденсаторы и резисторы — измерение температурных коэффициентов, измерение минимальной и максимальной емкости, измерение и вычисление измерения емкости после воздействия влаги, нагрузки и холода.
5. Матрицы — измерение по электромагнитным параметрам с плотностью от 100 до 200 чисел на 1 кв. м с шагом 1 — 1,5 мм.
6. Монокристаллический кремний и германий — измерение удельного сопротивления 4-зондовым методом; определение плотности дислокации; изготовление омических контактов для измерения времени жизни методом модуляции проводимости в точечном контакте.
7. МПП с количеством точек до 3000 — проверка схемы на установке УКП.
8. Пластины памяти и пластины дешифраторов для кубов памяти — измерение электромагнитных параметров; нанесение микрообмотки на матрицы и дешифраторы; нанесение флюсов на выводы пластин; расчет длительности импульса и его амплитуды по показателям осциллографа.
9. Пластины, квадраты, кольца — измерение и расчет электрических параметров.
10. Пластины полупроводниковые — замер неплоскостности на установках типа 6019 с выводом значений на дисплей.
11. Платы печатного монтажа — контроль на короткое замыкание омического сопротивления, целостности цепи тестором и на прозвоночной станции.
12. Секции накопителей памяти — измерение и сортировка по электрическим параметрам.
13. Селеновые выпрямители специального назначения — измерение электрических параметров.
14. Слои и платы (МПП) — проверка на целостность цепей, на отсутствие короткого замыкания, проверка сопротивления изоляции.
15. Слои структур арсенида галлия — измерение толщины методом декорирования анодным окислением в ультрафиолетовом свете.
16. Ферриты — измерение СВЧ характеристик на специальных стендах; измерение температурного коэффициента; вычисление электрических параметров по формулам и измерение их на приборе.
17. Фоторезисторы — измерение ЭДС шумов.
18. Электронные часы — настройка частоты генератора, проверка функциональных параметров.