<?xml version="1.0" encoding="utf-8"?>
<XMLCardInfo xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns:xsd="http://www.w3.org/2001/XMLSchema">
<ProfessionalStandarts>
<ProfessionalStandart><NameProfessionalStandart>Инженер-технолог в области производства наногетероструктурных СВЧ-монолитных интегральных схем</NameProfessionalStandart><RegistrationNumber>26</RegistrationNumber><OrderNumber>69н</OrderNumber><DateOfApproval>03.02.2014</DateOfApproval><FirstSection><KindProfessionalActivity>Производство интегральных схем, микросборок и микромодулей</KindProfessionalActivity><CodeKindProfessionalActivity>40.007</CodeKindProfessionalActivity><PurposeKindProfessionalActivity>Производство наногетероструктурных сверхвысокочастотных (СВЧ) монолитных интегральных схем (МИС СВЧ) с использованием нанотехнологий</PurposeKindProfessionalActivity><EmploymentGroup><ListOKZ><UnitOKZ><CodeOKZ/><NameOKZ/></UnitOKZ><UnitOKZ><CodeOKZ>2113.</CodeOKZ><NameOKZ>Химики</NameOKZ></UnitOKZ></ListOKZ><ListOKVED><UnitOKVED><CodeOKVED>32.10.6</CodeOKVED><NameOKVED>Производство интегральных схем, микросборок имикромодулей</NameOKVED></UnitOKVED></ListOKVED></EmploymentGroup></FirstSection><ThirdSection><WorkFunctions><GeneralizedWorkFunctions><GeneralizedWorkFunction><CodeOTF>A</CodeOTF><NameOTF>Моделирование, разработка и внедрение новых технологических процессов производства наногетероструктурных МИС СВЧ</NameOTF><LevelOfQualification>7</LevelOfQualification><PossibleJobTitles><PossibleJobTitle>Ведущий инженер-технолог</PossibleJobTitle><PossibleJobTitle>Инженер-технолог</PossibleJobTitle></PossibleJobTitles><EducationalRequirements><EducationalRequirement>Высшее образование - специалитет, магистратура</EducationalRequirement></EducationalRequirements><RequirementsWorkExperiences><RequirementsWorkExperience>Не менее одного года работы в должности инженера-технолога</RequirementsWorkExperience></RequirementsWorkExperiences><SpecialConditionsForAdmissionToWork><SpecialConditionForAdmissionToWork>Прохождение обязательных предварительных (при поступлении на работу) и периодических медицинских осмотров (обследований) в установленном законодательством порядке;</SpecialConditionForAdmissionToWork><SpecialConditionForAdmissionToWork>инструктаж по безопасному ведению работ</SpecialConditionForAdmissionToWork></SpecialConditionsForAdmissionToWork><OtherCharacteristics/><OtherCharacteristicPlus><ListOKZ><UnitOKZ><CodeOKZ>32.10.6</CodeOKZ><NameOKZ>Производство интегральных схем, микросборок имикромодулей</NameOKZ></UnitOKZ><UnitOKZ><CodeOKZ>32.10.6</CodeOKZ><NameOKZ>Производство интегральных схем, микросборок имикромодулей</NameOKZ></UnitOKZ></ListOKZ><ListEKS><UnitEKS><CodeEKS>-</CodeEKS><NameEKS>Инженер-технолог</NameEKS></UnitEKS></ListEKS><ListOKSO><UnitOKSO><CodeOKSO>32.10.6</CodeOKSO><NameOKSO>Производство интегральных схем, микросборок имикромодулей</NameOKSO></UnitOKSO><UnitOKSO><CodeOKSO>32.10.6</CodeOKSO><NameOKSO>Производство интегральных схем, микросборок имикромодулей</NameOKSO></UnitOKSO></ListOKSO></OtherCharacteristicPlus><ParticularWorkFunctions><ParticularWorkFunction><CodeTF>A/01.7</CodeTF><NameTF>Анализ мирового опыта применения материалов наногетероструктурной электроники СВЧ</NameTF><SubQualification>7</SubQualification><LaborActions><LaborAction>Анализ применения материалов в интегральной электронике СВЧ, основанной на гетероэпитаксиальных структурах</LaborAction><LaborAction>Анализ физических и технологических принципов разработки и изготовления активных элементов с применением новых и традиционных материалов СВЧ (гетеротранзисторов с высокой подвижностью электронов, низкобарьерных диодов и др.)</LaborAction><LaborAction>Прогноз применения материалов в наногетероструктурной электронике для определения политики организации в области производства наногетероструктурных МИС СВЧ</LaborAction></LaborActions><RequiredSkills><RequiredSkill>Делать обзоры по отечественным и иностранным источникам информации</RequiredSkill></RequiredSkills><NecessaryKnowledges><NecessaryKnowledge>Технический английский язык</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Основы материаловедения полупроводников и гетероструктур</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Технология наногетероструктурных МИС СВЧ</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Технологическое оборудование для производства МИС СВЧ</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Технико-экономические и прогнозные исследования в отрасли</NecessaryKnowledge></NecessaryKnowledges><OtherCharacteristics><OtherCharacteristic>Ответственность за прогнозные оценки развития производства</OtherCharacteristic><OtherCharacteristic>Деятельность, направленная на решение нетиповых задач технологического характера</OtherCharacteristic></OtherCharacteristics><ListFootnes/></ParticularWorkFunction><ParticularWorkFunction><CodeTF>A/02.7</CodeTF><NameTF>Разработка планов создания и модернизации технологических линий для освоения новых направлений в наногетероструктурной электронике СВЧ</NameTF><SubQualification>7</SubQualification><LaborActions><LaborAction>Анализ тенденций развития технологии, технологического оборудования в области наногетероструктурной электроники СВЧ</LaborAction><LaborAction>Разработка технически и экономически обоснованных планов развития новых производств или модернизации существующих для освоения новых направлений в производстве МИС СВЧ</LaborAction><LaborAction>Представление планов развития для обсуждения и принятия на научно-техническом совете (НТС)</LaborAction></LaborActions><RequiredSkills><RequiredSkill>Делать обзоры по отечественным и иностранным источникам информации</RequiredSkill><RequiredSkill>Готовить планы развития</RequiredSkill><RequiredSkill>Готовить презентации</RequiredSkill></RequiredSkills><NecessaryKnowledges><NecessaryKnowledge>Технический английский язык</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Технология наногетероструктурных МИС СВЧ, исследования в новых направлениях</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Технологическое оборудование для производства МИС СВЧ</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Технико-экономические и прогнозные исследования в отрасли</NecessaryKnowledge></NecessaryKnowledges><OtherCharacteristics><OtherCharacteristic>Ответственность за прогнозные оценки развития производства</OtherCharacteristic><OtherCharacteristic>Деятельность, направленная на решение новых задач технологического характера</OtherCharacteristic></OtherCharacteristics><ListFootnes/></ParticularWorkFunction><ParticularWorkFunction><CodeTF>A/03.7</CodeTF><NameTF>Подготовка технического задания (ТЗ) на проведение опытно-технологических работ (ОТР) по разработке новых технологических процессов производства МИС СВЧ</NameTF><SubQualification>7</SubQualification><LaborActions><LaborAction>Анализ прогнозных оценок тенденций развития технологии, технологического оборудования в области наногетероструктурной электроники СВЧ</LaborAction><LaborAction>Постановка целей и задач проведения опытно-технологических работ по разработке новых ТП производства МИС СВЧ</LaborAction><LaborAction>Декомпозиция задач ОТР, выделение базовых ТП и установление временных рамок и последовательности их разработки</LaborAction><LaborAction>Представление планов развития для обсуждения и принятия на НТС</LaborAction><LaborAction>Формулирование ТЗ для определенной последовательности разработки базовых технологических процессов</LaborAction><LaborAction>Оформление ТЗ на ОТР</LaborAction><LaborAction>Представление и защита разработанных ТЗ на НТС</LaborAction></LaborActions><RequiredSkills><RequiredSkill>Формулировать цели, задачи, разрабатывать и согласовывать ТЗ на проведение связанных системно ОТР</RequiredSkill></RequiredSkills><NecessaryKnowledges><NecessaryKnowledge>Физика и технология наногетероструктурных МИС СВЧ, исследования в новых направлениях</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Системный анализ</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Методы декомпозиции сложных задач</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Технологическое оборудование для производства МИС СВЧ</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Технико-экономическое обоснование развития отрасли</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Стандарты на проведение опытно-технологических работ</NecessaryKnowledge></NecessaryKnowledges><OtherCharacteristics><OtherCharacteristic>Ответственность за развитие производства</OtherCharacteristic><OtherCharacteristic>Деятельность, направленная на решение новых задач технологического характера</OtherCharacteristic></OtherCharacteristics><ListFootnes/></ParticularWorkFunction><ParticularWorkFunction><CodeTF>A/04.7</CodeTF><NameTF>Моделирование наногетероструктур, активных и пассивных элементов, технологических операций изготовления гетероструктурных МИС СВЧ с использованием технологических систем моделирования и проектирования элементов и технологий полупроводниковых ИС, в том чис</NameTF><SubQualification>7</SubQualification><LaborActions><LaborAction>Анализ требований КД на МИС СВЧ</LaborAction><LaborAction>Выбор на основе опыта и в соответствии с ТЗ и КД материалов и типа наногетероструктуры</LaborAction><LaborAction>Моделирование наногетероструктур, определение их параметров, необходимых для расчета активных элементов (СВЧ-транзисторов, диодов) с использованием TCAD и других программных продуктов</LaborAction><LaborAction>Моделирование технологического процесса изготовления активных элементов, определение параметров ТП на основе данных моделирования</LaborAction><LaborAction>Моделирование технологических операций изготовления пассивных элементов - линий передачи, конденсаторов, резисторов, мостов, и др.</LaborAction><LaborAction>Отчет о результатах моделирования, согласование его с руководителем и передача технологу для использования при разработке ТД</LaborAction></LaborActions><RequiredSkills><RequiredSkill>Оценивать технические и экономические риски при выборе технологических процессов изготовления МИС СВЧ</RequiredSkill><RequiredSkill>Оценивать временные затраты на стандартные и нестандартные подходы при производстве МИС СВЧ</RequiredSkill></RequiredSkills><NecessaryKnowledges><NecessaryKnowledge>Основы физики гетероэпитаксиальных структур и приборов</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Параметры полупроводниковых материалов</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Современные системы моделирования и проектирования СВЧ устройств и МИС СВЧ</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Основы технологии МИС СВЧ</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Методы сквозного проектирования МИС СВЧ</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Единая система технологической документации (ЕСТД), нормативная документация, регламенты, принятые в организации</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>ГОСТ по постановке продукции на производство</NecessaryKnowledge></NecessaryKnowledges><OtherCharacteristics><OtherCharacteristic>Самостоятельная профессиональная деятельность, предполагающая ответственность за выбор типа гетероструктур и активных элементов, как результат выполнения собственных работ</OtherCharacteristic><OtherCharacteristic>Деятельность, направленная на подготовку заданий на конструирование МИС СВЧ</OtherCharacteristic></OtherCharacteristics><ListFootnes/></ParticularWorkFunction><ParticularWorkFunction><CodeTF>A/05.7</CodeTF><NameTF>Подготовка технического задания (ТЗ) на разработку маршрутных и операционных карт производства МИС СВЧ на основе разработанной конструкторской документации (КД), документации на отработанные технологические процессы (ТП) и данных моделирования</NameTF><SubQualification>7</SubQualification><LaborActions><LaborAction>Анализ требований КД на МИС СВЧ, а также данных моделирования наногетероструктур, активных и пассивных элементов</LaborAction><LaborAction>Оценка на основе опыта и экспериментальных данных реализуемости технологии изготовления на МИС СВЧ и возможных рисков</LaborAction><LaborAction>Выбор на основе нормативных документов ТП, в наиболее полном виде обеспечивающих требования к параметрам МИС СВЧ</LaborAction><LaborAction>Составление ТЗ на разработку ТД с учетом требований КД</LaborAction><LaborAction>Согласование ТЗ в соответствии с регламентом, принятым в организации</LaborAction></LaborActions><RequiredSkills><RequiredSkill>Оценивать технические и экономические риски при выборе технологических процессов изготовления МИС СВЧ</RequiredSkill><RequiredSkill>Оценивать временные затраты на стандартные и нестандартные подходы при производстве МИС СВЧ</RequiredSkill><RequiredSkill>Составлять согласно стандартам технические задания на разработку ТД МИС СВЧ</RequiredSkill><RequiredSkill>Оформлять ТД для сопровождения производства МИС СВЧ</RequiredSkill><RequiredSkill>Взаимодействовать с коллективами цехов, участков</RequiredSkill></RequiredSkills><NecessaryKnowledges><NecessaryKnowledge>Основы физики гетероэпитаксиальных структур и приборов</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Параметры полупроводниковых материалов</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Современные системы моделирования и проектирования      СВЧ-устройств и МИС СВЧ</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Основы технологии МИС СВЧ</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Методы сквозного проектирования МИС СВЧ</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>ЕСТД, нормативная документация, регламенты, принятые в организации</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Стандарты по постановке продукции на производство</NecessaryKnowledge></NecessaryKnowledges><OtherCharacteristics><OtherCharacteristic>Самостоятельная профессиональная деятельность, предполагающая ответственность за выбор типа гетероструктур и активных элементов, как результат выполнения собственных работ</OtherCharacteristic><OtherCharacteristic>Деятельность, направленная на подготовку заданий на разработку технологических процессов МИС СВЧ</OtherCharacteristic></OtherCharacteristics><ListFootnes/></ParticularWorkFunction></ParticularWorkFunctions></GeneralizedWorkFunction><GeneralizedWorkFunction><CodeOTF>B</CodeOTF><NameOTF>Подготовка комплекта технологической документации (ТД) производства наногетероструктурных МИС СВЧ, организация и сопровождение технологического процесса производства</NameOTF><LevelOfQualification>7</LevelOfQualification><PossibleJobTitles><PossibleJobTitle>Ведущий инженер-технолог</PossibleJobTitle><PossibleJobTitle>Инженер-технолог</PossibleJobTitle></PossibleJobTitles><EducationalRequirements><EducationalRequirement>Высшее образование - специалитет, магистратура</EducationalRequirement></EducationalRequirements><RequirementsWorkExperiences><RequirementsWorkExperience>Не менее одного года работы в должности инженера-технолога</RequirementsWorkExperience></RequirementsWorkExperiences><SpecialConditionsForAdmissionToWork><SpecialConditionForAdmissionToWork>Прохождение обязательных предварительных (при поступлении на работу) и периодических медицинских осмотров (обследований) в установленном законодательством порядке;</SpecialConditionForAdmissionToWork><SpecialConditionForAdmissionToWork>инструктаж по безопасному ведению работ</SpecialConditionForAdmissionToWork></SpecialConditionsForAdmissionToWork><OtherCharacteristics/><OtherCharacteristicPlus><ListOKZ><UnitOKZ><CodeOKZ>32.10.6</CodeOKZ><NameOKZ>Производство интегральных схем, микросборок имикромодулей</NameOKZ></UnitOKZ><UnitOKZ><CodeOKZ>32.10.6</CodeOKZ><NameOKZ>Производство интегральных схем, микросборок имикромодулей</NameOKZ></UnitOKZ></ListOKZ><ListEKS><UnitEKS><CodeEKS>-</CodeEKS><NameEKS>Инженер-технолог</NameEKS></UnitEKS></ListEKS><ListOKSO><UnitOKSO><CodeOKSO>32.10.6</CodeOKSO><NameOKSO>Производство интегральных схем, микросборок имикромодулей</NameOKSO></UnitOKSO></ListOKSO></OtherCharacteristicPlus><ParticularWorkFunctions><ParticularWorkFunction><CodeTF>B/01.7</CodeTF><NameTF>Разработка комплекта технологической документации для производства МИС СВЧ на основе ТЗ и нормативной документации</NameTF><SubQualification>7</SubQualification><LaborActions><LaborAction>Анализ КД и ТЗ на разработку МИС СВЧ в части требований к технологии производства</LaborAction><LaborAction>Обоснование выбора маршрутной технологии</LaborAction><LaborAction>Разработка маршрутных карт ТП изготовления МИС СВЧ</LaborAction><LaborAction>Расчет технологических режимов операций</LaborAction><LaborAction>Разработка операционных карт ТП</LaborAction><LaborAction>Оформление технологической документации на ТП, согласование ее в соответствии с установленными регламентами</LaborAction></LaborActions><RequiredSkills><RequiredSkill>Работать с нормативной документацией</RequiredSkill><RequiredSkill>Работать в системе автоматизации проектирования (САПР) подготовки ТД для производства МИС СВЧ</RequiredSkill></RequiredSkills><NecessaryKnowledges><NecessaryKnowledge>Технология производства МИС СВЧ</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Стандарты для подготовки технологической документации</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>САПР подготовки ТД</NecessaryKnowledge></NecessaryKnowledges><OtherCharacteristics><OtherCharacteristic>Ответственность за качество технологической документации на производство МИС СВЧ</OtherCharacteristic></OtherCharacteristics><ListFootnes/></ParticularWorkFunction><ParticularWorkFunction><CodeTF>B/02.7</CodeTF><NameTF>Планирование и организация сопровождения технологического процесса производства МИС СВЧ</NameTF><SubQualification>7</SubQualification><LaborActions><LaborAction>Тестовый запуск, сопровождение и контроль выполнения технологических операций в ходе изготовления экспериментальной партии МИС СВЧ</LaborAction><LaborAction>Анализ данных измерения параметров тестовых структур МИС СВЧ, внесение предложений по коррекции режимов в технологическую документацию</LaborAction><LaborAction>Сопровождение установившегося технологического процесса производства МИС СВЧ: формирование баз данных измерения и контроля, составление протоколов и актов контроля параметров МИС</LaborAction><LaborAction>Анализ данных измерений и контроля, предложения об изменении параметров ТП</LaborAction></LaborActions><RequiredSkills><RequiredSkill>Проводить анализ технологической документации</RequiredSkill><RequiredSkill>Работать на части технологического оборудования</RequiredSkill></RequiredSkills><NecessaryKnowledges><NecessaryKnowledge>Стандарты на ТД: нормативная документация отрасли, организации на технологические процессы</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Основы технологии МИС СВЧ</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Система менеджмента качества (СМК)</NecessaryKnowledge></NecessaryKnowledges><OtherCharacteristics><OtherCharacteristic>Профессиональная деятельность, направленная на согласование работ группы инженеров-конструкторов и инженеров-технологов</OtherCharacteristic></OtherCharacteristics><ListFootnes/></ParticularWorkFunction><ParticularWorkFunction><CodeTF>B/03.7</CodeTF><NameTF>Разработка методики входного, межоперационного и выходного контроля при производстве наногетероструктурных МИС СВЧ</NameTF><SubQualification>7</SubQualification><LaborActions><LaborAction>Анализ ТЗ в части требований к параметрам исходных материалов и выполнения отдельных операций при изготовлении МИС СВЧ</LaborAction><LaborAction>Разработка методик, выбор оборудования входного контроля материалов, используемых в производстве МИС СВЧ: подложек, металлов, диэлектриков и др.</LaborAction><LaborAction>Разработка методик, выбор оборудования межоперационного контроля на тестовых структурах и элементах МИС СВЧ</LaborAction><LaborAction>Разработка методик, выбор оборудования выходного контроля на тестовых структурах и МИС СВЧ</LaborAction><LaborAction>Руководство проведением всех видов контроля</LaborAction><LaborAction>Формирование базы данных всех видов контроля</LaborAction><LaborAction>Статистическая обработка данных контроля с оформлением протоколов и заключений</LaborAction></LaborActions><RequiredSkills><RequiredSkill>Работать на оборудовании входного, межоперационного и выходного контроля при производстве наногетероструктурных МИС СВЧ</RequiredSkill></RequiredSkills><NecessaryKnowledges><NecessaryKnowledge>Методы контроля параметров МИС СВЧ и технологических процессов</NecessaryKnowledge></NecessaryKnowledges><OtherCharacteristics><OtherCharacteristic>Ответственность за контроль качества МИС СВЧ</OtherCharacteristic></OtherCharacteristics><ListFootnes/></ParticularWorkFunction><ParticularWorkFunction><CodeTF>B/04.7</CodeTF><NameTF>Реализация технологии на основе электронной литографии</NameTF><SubQualification>7</SubQualification><LaborActions><LaborAction>Анализ КД и ТЗ в части требований к реализации ТП на основе электронной литографии</LaborAction><LaborAction>Техническая проверка исходных файлов топологии МИС СВЧ для проведения электронной литографии</LaborAction><LaborAction>Руководство подготовкой подложек для проведения операций экспонирования фоторезистов на установке электронной литографии</LaborAction><LaborAction>Подготовка установки электронной литографии к проведению операций прорисовки топологии</LaborAction><LaborAction>Руководство реализацией операций резист-процессинга после экспонирования подложек</LaborAction><LaborAction>Измерение параметров тестовых структур и элементов МИС СВЧ на подложке, оформление протокола и внесение данных в базу данных участка электронной литографии</LaborAction><LaborAction>Передача подложки на следующий участок в соответствии с маршрутной картой</LaborAction><LaborAction>Регламентные работы по тестированию установки электронной литографии</LaborAction></LaborActions><RequiredSkills><RequiredSkill>Работать с нормативной документацией</RequiredSkill><RequiredSkill>Работать в САПР подготовки ТД для производства МИС СВЧ</RequiredSkill></RequiredSkills><NecessaryKnowledges><NecessaryKnowledge>Методы электронной литографии</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Технология производства МИС СВЧ на основе электронной литографии</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Стандарты для подготовки технологической документации</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>САПР подготовки файлов топологии для электронной литографии</NecessaryKnowledge></NecessaryKnowledges><OtherCharacteristics><OtherCharacteristic>Ответственность за качество ТП, основанного на электронной литографии</OtherCharacteristic></OtherCharacteristics><ListFootnes/></ParticularWorkFunction><ParticularWorkFunction><CodeTF>B/05.7</CodeTF><NameTF>Реализация технологии на основе проекционной литографии</NameTF><SubQualification>7</SubQualification><LaborActions><LaborAction>Анализ КД и ТЗ в части требований к реализации ТП на основе проекционной литографии</LaborAction><LaborAction>Техническая проверка исходных файлов топологии МИС СВЧ для изготовления фотошаблонов</LaborAction><LaborAction>Руководство изготовлением комплекта фотошаблонов в соответствии с ТЗ</LaborAction><LaborAction>Руководство подготовкой подложек для проведения последовательности операций ТП, основанного на проекционной литографии (фотолитографии)</LaborAction><LaborAction>Подготовка установки проекционной литографии к проведению операций</LaborAction><LaborAction>Руководство реализацией последовательности операций изготовления МИС СВЧ после экспонирования подложек</LaborAction><LaborAction>Измерение параметров тестовых структур и элементов МИС СВЧ на подложке, оформление протокола и внесение данных в базу данных участка проекционной литографии</LaborAction><LaborAction>Передача подложки на следующий участок в соответствии с маршрутной картой</LaborAction><LaborAction>Регламентные работы по тестированию установок проекционной литографии</LaborAction></LaborActions><RequiredSkills><RequiredSkill>Работать с нормативной документацией</RequiredSkill><RequiredSkill>Работать в САПР подготовки ТД для производства МИС СВЧ</RequiredSkill></RequiredSkills><NecessaryKnowledges><NecessaryKnowledge>Технология производства МИС СВЧ на основе проекционной литографии</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Стандарты для подготовки технологической документации</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>САПР подготовки файлов топологии для проекционной литографии</NecessaryKnowledge></NecessaryKnowledges><OtherCharacteristics><OtherCharacteristic>Ответственность за качество ТП проекционной литографии</OtherCharacteristic></OtherCharacteristics><ListFootnes/></ParticularWorkFunction><ParticularWorkFunction><CodeTF>B/06.7</CodeTF><NameTF>Организация работы по повышению выхода годных МИС, разработка ТЗ для корректировки технологических операций</NameTF><SubQualification>7</SubQualification><LaborActions><LaborAction>Разработка методик статистической обработки данных по уровню отклонений параметров и брака на пластинах наногетероструктурных МИС СВЧ</LaborAction><LaborAction>Анализ причин отклонений, отказов и связывание их с исходными параметрами материалов гетероструктур, технологических операций, топологии</LaborAction><LaborAction>Составление программы дополнительных исследований и измерений</LaborAction><LaborAction>Подготовка рекомендации по устранению причин отклонений параметров и брака МИС СВЧ</LaborAction><LaborAction>Разработка ТЗ для корректировки технологических операций и других мероприятий на основе анализа причин отклонений параметров и отказов</LaborAction></LaborActions><RequiredSkills><RequiredSkill>Разрабатывать и владеть методиками статистической обработки данных</RequiredSkill><RequiredSkill>Владеть методиками межоперационного контроля</RequiredSkill><RequiredSkill>Анализировать результаты экспериментов</RequiredSkill><RequiredSkill>Разрабатывать ТЗ</RequiredSkill><RequiredSkill>Владеть методологией СМК</RequiredSkill></RequiredSkills><NecessaryKnowledges><NecessaryKnowledge>Методы планирования эксперимента</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Методы и методики статистического анализа</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Теория допусков и теория чувствительности</NecessaryKnowledge></NecessaryKnowledges><OtherCharacteristics><OtherCharacteristic>Ответственность за процент выхода годных МИС</OtherCharacteristic><OtherCharacteristic>Деятельность, направленная на решение задач повышения эффективности организации</OtherCharacteristic></OtherCharacteristics><ListFootnes/></ParticularWorkFunction></ParticularWorkFunctions></GeneralizedWorkFunction><GeneralizedWorkFunction><CodeOTF>C</CodeOTF><NameOTF>Осуществление проектирования и изготовления методами эпитаксии наногетероструктур для ОТР и производства МИС СВЧ</NameOTF><LevelOfQualification>7</LevelOfQualification><PossibleJobTitles><PossibleJobTitle>Ведущий инженер-технолог</PossibleJobTitle><PossibleJobTitle>Инженер-технолог</PossibleJobTitle></PossibleJobTitles><EducationalRequirements><EducationalRequirement>Высшее образование - специалитет, магистратура</EducationalRequirement></EducationalRequirements><RequirementsWorkExperiences><RequirementsWorkExperience>Не менее одного года работы в должности инженера-технолога</RequirementsWorkExperience></RequirementsWorkExperiences><SpecialConditionsForAdmissionToWork><SpecialConditionForAdmissionToWork>Прохождение обязательных предварительных (при поступлении на работу) и периодических медицинских осмотров (обследований) в установленном законодательством порядке;</SpecialConditionForAdmissionToWork><SpecialConditionForAdmissionToWork>инструктаж по безопасному ведению работ</SpecialConditionForAdmissionToWork></SpecialConditionsForAdmissionToWork><OtherCharacteristics/><OtherCharacteristicPlus><ListOKZ><UnitOKZ><CodeOKZ>32.10.6</CodeOKZ><NameOKZ>Производство интегральных схем, микросборок имикромодулей</NameOKZ></UnitOKZ><UnitOKZ><CodeOKZ>32.10.6</CodeOKZ><NameOKZ>Производство интегральных схем, микросборок имикромодулей</NameOKZ></UnitOKZ></ListOKZ><ListEKS><UnitEKS><CodeEKS>-</CodeEKS><NameEKS>Инженер-технолог</NameEKS></UnitEKS></ListEKS><ListOKSO><UnitOKSO><CodeOKSO>32.10.6</CodeOKSO><NameOKSO>Производство интегральных схем, микросборок имикромодулей</NameOKSO></UnitOKSO></ListOKSO></OtherCharacteristicPlus><ParticularWorkFunctions><ParticularWorkFunction><CodeTF>C/01.7</CodeTF><NameTF>Проведение расчета параметров технологического процесса эпитаксиального выращивания наногетероструктур на подложках, применяемых в СВЧ-электронике</NameTF><SubQualification>7</SubQualification><LaborActions><LaborAction>Анализ ТЗ на разработку МИС СВЧ в части требований к материалам и типу наногетероструктуры</LaborAction><LaborAction>Обоснование выбора машины для проведения эпитаксии</LaborAction><LaborAction>Расчет технологических режимов выращивания эпитаксиальных слоев</LaborAction><LaborAction>Моделирование роста гетероструктур с применением TCAD</LaborAction><LaborAction>Разработка технологической документации на изготовление гетероструктур</LaborAction></LaborActions><RequiredSkills><RequiredSkill>Работать на машинах молекулярно-лучевой эпитаксии</RequiredSkill></RequiredSkills><NecessaryKnowledges><NecessaryKnowledge>Технический английский язык</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Основы материаловедения полупроводников и гетероструктур</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Методы эпитаксии для производства гетероструктур, применяемых в наноэлектронике СВЧ</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Работа с установками сверхвысокого вакуума</NecessaryKnowledge></NecessaryKnowledges><OtherCharacteristics><OtherCharacteristic>Ответственность за качество исходных материалов для МИС СВЧ</OtherCharacteristic></OtherCharacteristics><ListFootnes/></ParticularWorkFunction><ParticularWorkFunction><CodeTF>C/02.7</CodeTF><NameTF>Подготовка и квалификация машин к росту продукции</NameTF><SubQualification>7</SubQualification><LaborActions><LaborAction>Выполнение регламента подготовки машины к проведению ТП выращивания наногетероструктуры</LaborAction><LaborAction>Подготовка материалов для проведения эпитаксии</LaborAction><LaborAction>Проведение роста наногетероструктур в соответствии с ТП</LaborAction></LaborActions><RequiredSkills><RequiredSkill>Работать на машинах молекулярно-лучевой эпитаксии</RequiredSkill></RequiredSkills><NecessaryKnowledges><NecessaryKnowledge>Технический английский язык</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Основы материаловедения полупроводников и гетероструктур</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Технология молекулярно-лучевой эпитаксии</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Работа с установками сверхвысокого вакуума</NecessaryKnowledge></NecessaryKnowledges><OtherCharacteristics><OtherCharacteristic>Ответственность за качество исходных материалов для МИС СВЧ</OtherCharacteristic></OtherCharacteristics><ListFootnes/></ParticularWorkFunction><ParticularWorkFunction><CodeTF>C/03.7</CodeTF><NameTF>Определение методик тестирования качества эпитаксиальных слоев</NameTF><SubQualification>7</SubQualification><LaborActions><LaborAction>Выбор методов и технических средств для тестирования эпитаксиальных слоев наногетероструктур</LaborAction><LaborAction>Измерение основных параметров в процессе эпитаксии</LaborAction><LaborAction>Измерение параметров выращенных структур при завершении процесса эпитаксии</LaborAction><LaborAction>Формирование базы данных результатов тестирования и измерения</LaborAction></LaborActions><RequiredSkills><RequiredSkill>Работать с приборами и установками измерения параметров наногетероструктур</RequiredSkill></RequiredSkills><NecessaryKnowledges><NecessaryKnowledge>Методы измерения и тестирования параметров наногетероструктур</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Основы материаловедения полупроводников и гетероструктур</NecessaryKnowledge></NecessaryKnowledges><OtherCharacteristics><OtherCharacteristic>Ответственность за качество исходных материалов для МИС СВЧ</OtherCharacteristic></OtherCharacteristics><ListFootnes/></ParticularWorkFunction><ParticularWorkFunction><CodeTF>C/04.7</CodeTF><NameTF>Проведение статистического анализа поведения установки во время исследования, статистическое сопровождение по группам продукции и контроль качества по спецификации заказчика</NameTF><SubQualification>7</SubQualification><LaborActions><LaborAction>Формирование базы данных параметров установки во время реализации процесса роста</LaborAction><LaborAction>Анализ путем статистической обработки точности выполнения операций и результата роста</LaborAction><LaborAction>Анализ данных статистической обработки об отклонениях в реализации роста и выработка корректирующих действий в следующей загрузке</LaborAction><LaborAction>Оформление сдаточных документов с сертификатом наногетероструктур для заказчика</LaborAction></LaborActions><RequiredSkills><RequiredSkill>Проводить статистический анализ</RequiredSkill><RequiredSkill>Оформлять протоколы и сертификаты (паспорта) продукции</RequiredSkill></RequiredSkills><NecessaryKnowledges><NecessaryKnowledge>Методы статистической обработки данных</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Теория и практика управления технологическими процессами</NecessaryKnowledge></NecessaryKnowledges><OtherCharacteristics><OtherCharacteristic>Ответственность за качество исходных материалов для МИС СВЧ</OtherCharacteristic></OtherCharacteristics><ListFootnes/></ParticularWorkFunction></ParticularWorkFunctions></GeneralizedWorkFunction><GeneralizedWorkFunction><CodeOTF>D</CodeOTF><NameOTF>Проведение ОТР по разработке базовых технологических процессов МИС СВЧ</NameOTF><LevelOfQualification>7</LevelOfQualification><PossibleJobTitles><PossibleJobTitle>Ведущий инженер-технолог</PossibleJobTitle></PossibleJobTitles><EducationalRequirements><EducationalRequirement>Высшее образование - специалитет, магистратура</EducationalRequirement></EducationalRequirements><RequirementsWorkExperiences><RequirementsWorkExperience>Не менее одного года работы в должности инженера-технолога</RequirementsWorkExperience></RequirementsWorkExperiences><SpecialConditionsForAdmissionToWork><SpecialConditionForAdmissionToWork>Прохождение обязательных предварительных (при поступлении на работу) и периодических медицинских осмотров (обследований) в установленном законодательством порядке;</SpecialConditionForAdmissionToWork><SpecialConditionForAdmissionToWork>инструктаж по безопасному ведению работ</SpecialConditionForAdmissionToWork></SpecialConditionsForAdmissionToWork><OtherCharacteristics/><OtherCharacteristicPlus><ListOKZ><UnitOKZ><CodeOKZ>32.10.6</CodeOKZ><NameOKZ>Производство интегральных схем, микросборок имикромодулей</NameOKZ></UnitOKZ><UnitOKZ><CodeOKZ>32.10.6</CodeOKZ><NameOKZ>Производство интегральных схем, микросборок имикромодулей</NameOKZ></UnitOKZ></ListOKZ><ListEKS><UnitEKS><CodeEKS>-</CodeEKS><NameEKS>Инженер-технолог</NameEKS></UnitEKS></ListEKS><ListOKSO><UnitOKSO><CodeOKSO>32.10.6</CodeOKSO><NameOKSO>Производство интегральных схем, микросборок имикромодулей</NameOKSO></UnitOKSO></ListOKSO></OtherCharacteristicPlus><ParticularWorkFunctions><ParticularWorkFunction><CodeTF>D/01.7</CodeTF><NameTF>Анализ КД и ТЗ на проведение ОТР, оценка достижимости заданных параметров МИС СВЧ по выбираемой или заданной технологии</NameTF><SubQualification>7</SubQualification><LaborActions><LaborAction>Анализ экспериментальных данных предыдущих разработок</LaborAction><LaborAction>Оценка достижимости параметров путем моделирования основных электрических и эксплуатационных параметров, а также технологии изготовления активных и пассивных элементов МИС СВЧ</LaborAction><LaborAction>Организация проведения экспертных оценок достижимости заданных параметров по ТЗ</LaborAction><LaborAction>Разработка предложений о коррекции ТЗ на ОТР (в случае критичности достижения отдельных параметров)</LaborAction></LaborActions><RequiredSkills><RequiredSkill>Разрабатывать и владеть методами моделирования элементов и МИС в СВЧ диапазоне</RequiredSkill><RequiredSkill>Владеть методиками экспертных оценок</RequiredSkill><RequiredSkill>Владеть методологией СМК</RequiredSkill></RequiredSkills><NecessaryKnowledges><NecessaryKnowledge>Методы моделирования активных и пассивных элементов МИС СВЧ</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Методики экспертных оценок</NecessaryKnowledge></NecessaryKnowledges><OtherCharacteristics><OtherCharacteristic>Ответственность за корректность оценки ТЗ на реализуемость</OtherCharacteristic></OtherCharacteristics><ListFootnes/></ParticularWorkFunction><ParticularWorkFunction><CodeTF>D/02.7</CodeTF><NameTF>Определение базовых технологических процессов, применяемых материалов и оборудования для изготовления опытных образцов МИС СВЧ</NameTF><SubQualification>7</SubQualification><LaborActions><LaborAction>Анализ технического задания на ОТР, определение базовых технологических процессов для реализации целей ОТР</LaborAction><LaborAction>Обоснование применения материалов, используемых при производстве МИС СВЧ</LaborAction><LaborAction>Разработка перечня оборудования для реализации технологического процесса производства МИС</LaborAction><LaborAction>Разработка технико-экономического обоснования выбранных решений</LaborAction><LaborAction>Защита на НТС обоснованных технологических решений реализации ОТР</LaborAction></LaborActions><RequiredSkills><RequiredSkill>Оформлять технические решения в виде пояснительной записки, презентации, согласовывать их в соответствии с установленным регламентом и представлять на НТС</RequiredSkill></RequiredSkills><NecessaryKnowledges><NecessaryKnowledge>Системный анализ</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Нормативная документация и описания базовых технологических процессов</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Основы материаловедения применительно к электронике СВЧ</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Методики проведения технико-экономических исследований при производстве высокотехнологичной продукции</NecessaryKnowledge></NecessaryKnowledges><OtherCharacteristics><OtherCharacteristic>Профессиональная деятельность, направленная на развитие инновационных разработок</OtherCharacteristic></OtherCharacteristics><ListFootnes/></ParticularWorkFunction><ParticularWorkFunction><CodeTF>D/03.7</CodeTF><NameTF>Согласование принимаемых решений с представителями заказчика, конструкторскими подразделениями, метрологической службой и другими смежными структурами организации</NameTF><SubQualification>7</SubQualification><LaborActions><LaborAction>Разработка комплекса согласованных мероприятий по улучшению параметров технологического процесса и МИС СВЧ</LaborAction><LaborAction>Системный анализ влияния принимаемых согласованных решений на качественное и количественное улучшение основных параметров технологического процесса и МИС СВЧ</LaborAction></LaborActions><RequiredSkills><RequiredSkill>Принимать согласованные решения</RequiredSkill><RequiredSkill>Владеть методологией СМК</RequiredSkill></RequiredSkills><NecessaryKnowledges><NecessaryKnowledge>Системный анализ</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Теория и практика принятия оптимальных решений</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Процессный метод системы менеджмента качества</NecessaryKnowledge></NecessaryKnowledges><OtherCharacteristics><OtherCharacteristic>Ответственность за конечный результат, удовлетворяющий заказчика и имеющий перспективу производства электронных компонент СВЧ-техники</OtherCharacteristic></OtherCharacteristics><ListFootnes/></ParticularWorkFunction><ParticularWorkFunction><CodeTF>D/04.7</CodeTF><NameTF>Управление командой по реализации ОТР</NameTF><SubQualification>7</SubQualification><LaborActions><LaborAction>Постановка частных задач исследовательским и производственным коллективам для достижения основного результата</LaborAction><LaborAction>Контроль и оценка достижений заданных результатов</LaborAction></LaborActions><RequiredSkills><RequiredSkill>Декомпозировать ТЗ без потери системности</RequiredSkill><RequiredSkill>Принимать согласованные решения</RequiredSkill><RequiredSkill>Владеть методологией СМК</RequiredSkill></RequiredSkills><NecessaryKnowledges><NecessaryKnowledge>Системный анализ</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Теория и практика принятия оптимальных решений</NecessaryKnowledge><NecessaryKnowledge>Процессный метод системы менеджмента качества</NecessaryKnowledge></NecessaryKnowledges><OtherCharacteristics><OtherCharacteristic>Ответственность за выполнение всех требований ТЗ на ОТР</OtherCharacteristic></OtherCharacteristics><ListFootnes/></ParticularWorkFunction></ParticularWorkFunctions></GeneralizedWorkFunction></GeneralizedWorkFunctions></WorkFunctions></ThirdSection><FourthSection><ResponsibleDeveloper><ResponsibleDeveloper>Фонд инфраструктурных и образовательных программ (РОСНАНО)</ResponsibleDeveloper><ThePositionOfHead>Генеральный директор</ThePositionOfHead><TheFullNameOfTheHead>Свинаренко Андрей Геннадьевич</TheFullNameOfTheHead></ResponsibleDeveloper><OrganizationDevelopers><OrganizationDeveloper>Автономная некоммерческая организация «Национальное агентство развития квалификаций», город Москва</OrganizationDeveloper><OrganizationDeveloper>ЗАО «Научно-производственная фирма «Микран», город Томск</OrganizationDeveloper><OrganizationDeveloper>ОАО НИИ Полупроводниковых приборов, город Томск</OrganizationDeveloper><OrganizationDeveloper>ООО «НПФ «Сенсерия», город Томск</OrganizationDeveloper><OrganizationDeveloper>ООО «НПФ «Сибтроника», город Томск</OrganizationDeveloper><OrganizationDeveloper>ООО «РИД», город Томск</OrganizationDeveloper><OrganizationDeveloper>Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники» (ТУСУР), город Томск</OrganizationDeveloper></OrganizationDevelopers></FourthSection></ProfessionalStandart></ProfessionalStandarts>
</XMLCardInfo>
